哈恩庫(kù)博機(jī)械與電子量具、檢測(cè)和顯示儀：
    游標(biāo)卡尺、深度游標(biāo)卡尺、外徑，內(nèi)徑和深度千分尺、量塊、量塊附件、量規(guī)、百分表、千分表、測(cè)厚儀、卡規(guī)、中心表、比較儀、深度表、表座、測(cè)量臺(tái)、磁力表座、測(cè)劃線(xiàn)儀、平板及安裝附件、徑向跳動(dòng)檢測(cè)機(jī)、角度檢驗(yàn)臺(tái)、麻花鉆量規(guī)、半徑樣板、塞尺、標(biāo)準(zhǔn)孔板、盒尺、卷尺、刀口尺、角尺、角度規(guī)、水平尺（條式盒框式）、光學(xué)傾斜儀、表、計(jì)數(shù)器、轉(zhuǎn)表、電子度測(cè)頭、TESA計(jì)算機(jī)質(zhì)量保證系統(tǒng)、表頭校驗(yàn)儀等。

   哈恩庫(kù)博立式度測(cè)量?jī)x、度測(cè)量?jī)x、材料試驗(yàn)設(shè)備、光學(xué)檢測(cè)儀器：
    放鏡、顯微鏡、輪廓投影儀、內(nèi)窺鏡、數(shù)字圖像分析處理系統(tǒng)、硬度計(jì)、拉伸和壓縮試驗(yàn)機(jī)、聲波清洗機(jī)、加磁，消磁器、磁場(chǎng)渡測(cè)量表、機(jī)械，液壓，和電子測(cè)力重量計(jì)量、表面粗糙度測(cè)量?jī)x、表面粗糙度比較樣塊、表面鍍層測(cè)量?jī)x、聲波測(cè)量?jī)x、溫度計(jì)和濕度計(jì)、物理尺寸測(cè)量?jī)x、紅外線(xiàn)溫度測(cè)量?jī)x、TESA MICRO-HITE垂直測(cè)量機(jī)、三座標(biāo)測(cè)量機(jī)、Z-MIKE激光測(cè)量顯微鏡、光學(xué)檢測(cè)設(shè)備。